單晶定向和切割操作實施辦法

發布日期：2020-02-17 00:00 來源：http://www.guoganxinwen.com 點擊：

首先對被測晶體進行初步評價，用XRD常規θ/2θ掃描。理想單晶是光斑所照射的塊狀平面僅出現一種晶面的衍射峰，或者根本掃不到峰。僅有一個很強的主晶粒峰，只是取向有微小差異的，即有晶體缺陷的，可稱為準單晶。否則，就是多晶，但多晶概念太廣泛，有僅2個的或幾個晶粒的，也有更多的晶粒僅是晶粒尺寸較大的。只有粉末和微米級的圖譜符合統計分布，有統計平均值，和PDF卡標準對應。而這些有限的晶粒在衍射上無統計平均值，當以宏觀表面為參考作衍射，僅能發現各晶面平行宏觀表面的幾率差別，其圖譜與裝置樣品的方位有關，具有隨機性，把這些稱為取向性晶體。因此評價單晶，須和宏觀尺寸聯系起來，大塊單晶(例如鉆石)價值連城，僅幾個晶粒的需要琢刻分離，小到微米單晶一文不值。

根據上述判斷，符合單晶、準單晶條件的，可以作下面的定向測量。2個或2個以上的晶粒由于衍射難以進行顯微分析，不知道晶粒分布的輪廓，疊加的衍射圖譜情況對應，定向失去意義。

定向測量的前提是物相的晶系、晶格常數已知，具有PDF卡的需查閱被研究晶體的結構參數，以獲得每個晶面的衍射角20,; 若是固溶體物相，雖已知晶系但由于摻雜后晶格常數變化了，須將同種物相的樣品研細成粉末，不能研成粉末的金屬合金須提供微米級別的多晶,實地進行0/20掃描，通過實驗來確定各晶面的20%。

單晶定向哪家好