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      射線探傷單晶定向檢查的基本原理

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      射線探傷單晶定向檢查的基本原理

      發布日期:2023-05-08 00:00 來源:http://www.guoganxinwen.com 點擊:

      射線探傷單晶定向檢查的基本原理

      單晶定向在現代工業中廣泛應用射線照相和計算機實時成像技術來發現工件內部存在的缺陷,分析其形成的原因的規律,評價這些缺陷對工件使用性能的影響,以便改進設計或工藝,進一步提高產品質量,降低生產成本,避免惡性事故的發生。

      利用射線對材料具有一定的穿透能力及其在穿透材料過程中,不同物質和不同的物體結構對射線衰減程度各不相同,從而使缺陷在照相膠片或電視熒光屏上形成影像,借以判斷工件內部的缺陷和完整性。輻射源照射工件,X射線膠片放在工件的底面,由于有缺陷的材料與沒缺陷的材料吸收射線不同,所以工件的缺陷顯影在底片上,借助于缺陷的圖像,可以判斷工件的質量。

      在藍寶石晶體加工行業,為超過50家的國內外生產企業提供設備和服務,尤其在大尺寸藍寶石晶球定向及晶體表面缺陷檢測方面提供了專用設備。其中藍寶石晶體定向設備行業覆蓋率為80%,半導體級硅單晶專用設備行業覆蓋率為20%,太陽能級硅單晶專用設備行業覆蓋率為15%,壓電晶體專用設備行業覆蓋率為20%,實驗室專用設備行業覆蓋率為30%。


      單晶定向

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